Equipamento falso pode roubar informações.

Você já pensou que quando compra um equipamento desconhecido ele pode vir com problemas de segurança?

DARPA anunciou a implantação do ASOM tecnologia que será utilizada para inspecionar equipamentos críticos para detectar microeletrônica falsificada.

A presença de microeletrônica falsificados em  cibersegurança  equipamento é considerado um problema crítico para o governo dos Estados Unidos, no setor militar da qualificação hardware  tem assumido uma importância crucial para a estratégia de segurança cibernética nacional.

A DARPA dos EUA apoia o desenvolvimento da Confiabilidade de Circuitos Integrados (IRIS) Programa de Integridade e para impedir a difusão da microeletrônica falsificados em sistemas militares dos EUA. O programa IRIS começou em melhorar qualificação hardware na indústria militar, o escopo é a identificação de qualquer anomalia no IC presente em equipamentos críticos.

O post oficial publicado pela DARPA destaca o enorme crescimento do mercado de IC em todo o mundo nas últimas décadas, em 2013, o valor de importação de circuitos integrados foi 231.000 milhões dólares americanos, um aumento de 20 por cento em relação ao ano anterior. A maioria da microeletrônica em  cibersegurança  equipamento é hoje fabricado no  Extremo Oriente para reduzir os custos, mas em vários casos, os especialistas em segurança têm levantado dúvidas na integridade dos componentes de circuito.

Pesquisadores com SRI International, um performer IRIS, anunciaram que forneceram tecnologia avançada Scanning microscópio óptico (ASOM) à Naval Surface Warfare Center (NSWC) em Crane, Indiana.

Tecnologia ASOM DARPA 2

O governo dos EUA criou ao longo dos anos, inúmeras ferramentas forenses para análise de microeletrônica fornecidos por parceiros militares. O equipamento de laboratório usado por peritos sob a integridade e confiabilidade de Circuitos Integrados programa (IRIS) permite que os engenheiros para examinar os componentes de circuitos presentes em qualquer tipo de dispositivos utilizados em outros setores críticos militar e sofisticados.

A tecnologia ASOM permite a inspeção de circuitos integrados (CI) com impressionante precisão verificando-as com um feixe de laser infravermelho estreito. A tecnologia ASOM poderia ser usado por policiais para inspecionar equipamentos sob investigação, permitindo a detecção de microeletrônica falsificados. O ASOM é capaz de detectar circuitos microelectrónicos em níveis nanômetros, revelando informações sobre a construção de chips, bem como a função implementado pelos circuitos de o componente a nível de transistor.

"A Digitalização avançada Optical Microscope-uma das muitas IRIS desenvolvidas tecnologias que oferece recursos de segurança de hardware e de garantia de fiabilidade importantes", disse Kerry Bernstein , DARPA gerente do programa. "Estas ferramentas são otimizados para apoiar a missão de garantir a confiança na microeletrônica nos laboratórios do Departamento de Defesa, como NSWC Crane."

Como explicado no post publicado pela DARPA , a demanda militar para circuitos integrados (IC) é uma pequena parte do mercado global, neraly  um por cento, por esta razão DoD tem capacidade de influenciar a produção global limitada.

"Sem a capacidade de influenciar e regular o off-shore fabricação de IC, há um risco de que as peças adquiridas para os sistemas do DoD pode não atender às especificações indicada para desempenho e confiabilidade ", disse Bernstein. "Este risco aumenta consideravelmente com a proliferação de falsificação IC no mercado."

A tecnologia ASOM é considerada um sucesso para a agência, devido às suas capacidades de controlo que permitem aos engenheiros para realizar testes não destrutivos e identificar componentes falsificados, essenciais para a concepção de armas do país e outros sistemas críticos.

Pierluigi Paga nini

( S egurança Assuntos  - DARPA,  ASOM